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본 강연에서는 디스플레이 기술의 발전 흐름과 최신 OLED 디바이스의 구조 및 공정 원리를 살펴보고, 이를 바탕으로 불량 제품의 원인을 규명하는 구조분석 방법론을 다루고자 한다.

먼저, CRT와 LCD를 거쳐 자발광(Self-Emissive) 디스플레이인 OLED로 진화해 온 디스플레이 산업의 기술적 변천사를 개괄한다. LCD와 OLED의 적층 구조와 발광 메커니즘, TFT(Thin Film Transistor)의 원리를 설명한다. 이어서 디스플레이에 적용되는 다양한 TFT (LTPS, Oxide, LTPO) 기술의 진화를 비교 분석한다.  

이어지는 세션에서는 OLED 제조 기술 중 진공 증착(Evaporation) 공정과 FMM(Fine Metal Mask) 기술, 그리고 수분과 산소로부터 유기물을 보호하기 위한 박막 봉지(TFE) 기술의 원리를 다룬다. 더불어 전압 구동 방식인 LCD와 달리 미세한 전류 제어가 필수적인 OLED의 구동 특성과, 이로 인해 발생하는 고유한 불량 유형 및 보상 회로의 필요성에 대해 논의한다.  

마지막으로, 실제 현업에서 수행되는 불량 분석(Failure Analysis) 프로세스를 단계별로 소개한다.